高壓放電低電流檢漏儀簡(jiǎn)述

更新時(shí)間：2021-10-28

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高壓放電低電流檢漏儀簡(jiǎn)述

Leak-HV適用于水針劑包裝物密封性測(cè)試，儀器采用高壓放電法測(cè)試原理，無損檢測(cè)技術(shù)，滿足ASTM測(cè)試方法。高精度的測(cè)試技術(shù)能夠檢測(cè)到微型小孔的泄漏。廣泛適用于制藥企業(yè)、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)等單位。

一、密封性測(cè)試方法對(duì)比：

常見的密封性測(cè)試方法對(duì)比:

	色水法	微生物挑戰(zhàn)法	高壓放電法
	將式樣放水中，抽真空后通過對(duì)測(cè)試物上有無氣泡冒出，或者真空還原后色水是否進(jìn)入測(cè)試物來判斷是否泄露	將灌有培養(yǎng)基的陰性樣品和陽性樣品放入生物培養(yǎng)液中，講過長(zhǎng)時(shí)間的生物培養(yǎng)，查看微生物是否能夠侵入包裝內(nèi)。	測(cè)試過程適用一套電極探頭來掃描不導(dǎo)電的密封容器。如果有針孔、裂縫、或其他缺陷,那么將有電阻差異和電流改變,表明容器有泄漏。可以識(shí)別大致的缺陷位置。
優(yōu)點(diǎn)	1. 結(jié)果可見 2. 使用廣泛 3. 行業(yè)接受度高	1. 行業(yè)接受度高	1. 測(cè)試便捷快速 2. 可重復(fù) 3. 無損檢測(cè) 4. 人為因素小 5. 靈敏度高 6. 可測(cè)試高粘稠液體樣品
缺點(diǎn)	1. 破壞性測(cè)試 2. 主觀因素，易誤判 3. 靈敏度低，難以判斷微孔	1. 破壞性測(cè)試 2. 測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不具備可操作性 3. 無法判斷微孔泄露	儀器成本高
總結(jié)	色水法是常用檢驗(yàn)密封性的方法，據(jù)研究證明，雖然水分子在遇到5um的漏孔時(shí)能穿過，但是在實(shí)際檢測(cè)中會(huì)發(fā)現(xiàn)，如果遇到5um的微孔時(shí)，人員很難觀察到液體的滲入,從而產(chǎn)生誤判。而且經(jīng)過此密封測(cè)試后樣品無法再次使用。	實(shí)驗(yàn)過程漫長(zhǎng)，無法用于無菌藥品出廠檢驗(yàn)環(huán)節(jié)，破壞性試驗(yàn)，浪費(fèi)嚴(yán)重。	雖然高壓放電法檢漏儀造價(jià)高，但是是目前有效、直觀、高效的檢漏法。而且樣品經(jīng)過檢驗(yàn)后并不會(huì)受到污染，可正常使用。